XRF- X熒光光譜儀

更新時間：2020-04-13

簡要描述：

XRF- X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。

XRF- X熒光光譜儀產品介紹

鋁業(yè)網圖片

XRF- X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

XRF- X熒光光譜儀性能特點

高效超薄窗X光管，指標達到*水平
新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器產品&mdash信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然

XRF- X熒光光譜儀技術參數

產品型號：EDX 4500H
產品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm&mdash99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
分析精度：0.05 （含量高于96以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性）
測量時間：30秒200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV50KV
管流：50&muA1000&muA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V220V
環(huán)境溫度：15℃30℃
環(huán)境濕度：3570
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg