金鎳厚檢測(cè)儀 Thick8000

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

采用下照式結(jié)構(gòu)，儀器操作簡(jiǎn)單，以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層厚度測(cè)量的要求。...

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

應(yīng)用領(lǐng)域

鐵基----□Fe/Zn, □Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr，            □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag

銅基----□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr

鋅基----□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au

鎂鋁合金----□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au

塑膠基體----plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr

技術(shù)參數(shù)  

1   分析元素范圍：S-U

2   可分析多達(dá)3層以上鍍層

3   分析厚度檢出限達(dá)0.02μm

4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.05μm

5   定位精度：0.5mm

5   測(cè)量時(shí)間：30s-300s

6   計(jì)數(shù)率：1000-8000cps

7   儀器適合測(cè)試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例，分析的范圍是0.02—30um，在這個(gè)范圍內(nèi)，才能檢測(cè)。0.5-10um的，偏差是5%，就是說(shuō)真值是1um，用儀器測(cè)試的值是0.95-1.05um。