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      *制造商鐵鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀江蘇天瑞

      更新時(shí)間:2020-04-13

      簡要描述:

      *制造商鐵鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀江蘇天瑞,Thick600鐵鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀是天瑞儀器實(shí)惠的鍍層測(cè)厚儀;儀器采用下照式結(jié)構(gòu),適合平面樣品的檢測(cè),配置的軟件界面簡潔,測(cè)試樣品用時(shí)40S,售后服務(wù)可靠及時(shí)。
      Thick 8000鐵鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀是專門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。

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      Thick600鐵鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀是天瑞儀器實(shí)惠的鍍層測(cè)厚儀;儀器采用下照式結(jié)構(gòu),適合平面樣品的檢測(cè),配置的軟件界面簡潔,測(cè)試樣品用時(shí)40S,售后服務(wù)可靠及時(shí)。

      鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法:

      1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-2005

      2、X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005

      3、庫侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005

       

      測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

       

      1國標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000

       金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法

      2.美國標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08

      Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

       

      分析原理

       

      Thick600鐵鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí),就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特征信息。

      樣品測(cè)試步驟

      1)              每天開機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開測(cè)試軟件“FpThick”:

      用戶使用“Administrator”,密碼:skyray

      2)              進(jìn)入測(cè)試軟件后,選擇“測(cè)試條件”

      點(diǎn)擊“確定”,即測(cè)試條件確定(儀器已設(shè)置好)

      3)              選擇“工作曲線”

      如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳,則選擇Ni-Fe;其他依次類推

      4)              放入“Ag片”對(duì)儀器進(jìn)行初始化

      初始化完成后,(峰通道為1105,計(jì)數(shù)率達(dá)到一定的數(shù),如300以上)。

      5)              待測(cè)樣品測(cè)試

      放入待測(cè)的樣品,通過攝像頭畫面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況,以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn)。可以通過軟件提供的十字坐標(biāo)(也稱十字光標(biāo))來定位該聚焦點(diǎn),將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開始”,輸入樣品名稱后“確定”。

      6)              測(cè)試完成后即可保持報(bào)告,報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告”快捷方式中的“鍍層報(bào)告”中找到。

      注意:測(cè)試鍍層樣品時(shí),必須先要確定是什么鍍層、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。

       

      性能特點(diǎn)    

                                         

      1. *穩(wěn)定X銅光管;

      2.半導(dǎo)體硅片電制冷探測(cè)器,摒棄元素識(shí)別能力較弱的計(jì)數(shù)盒;

      3.內(nèi)置天瑞儀器研發(fā)部研發(fā)的—信噪比增強(qiáng)器(SNE)與MCA多道分析器;

      4.內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶隨時(shí)觀測(cè)樣品;

      5.脈沖處理器,數(shù)據(jù)處理快速準(zhǔn)確;

      6.手動(dòng)開關(guān)樣品腔,操作安全方便;

      7.三重安全保護(hù)模式;

      8.整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型簡潔;

      9.FP軟件,無標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可測(cè)量。

      質(zhì)量保證、技術(shù)服務(wù)

      1.儀器進(jìn)行終身維修;

      2.軟件免費(fèi)升級(jí):如有軟件升級(jí),乙方將免費(fèi)提供軟件升級(jí),不再收取升級(jí)費(fèi)用;

      3.保修條款

      3.1乙方對(duì)本合同銷售儀器設(shè)備自驗(yàn)收合格之日起免費(fèi)保修1年;

      3.2保修期結(jié)束后,乙方為甲方提供維修服務(wù)的資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)如下:

      交通費(fèi)、住宿費(fèi)由甲方承擔(dān);

      資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn):硬件成本費(fèi)用——按乙方時(shí)價(jià)計(jì)算

      硬件運(yùn)輸費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷

      服務(wù)費(fèi)——300元 / 人 / 天

      人員交通費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷

      人員住宿費(fèi)用——¥300元/天

      4.技術(shù)服務(wù)的響應(yīng)期限:提供有效的技術(shù)服務(wù),在接到用戶故障信息后,4小時(shí)內(nèi)響應(yīng);如有

      必要,12~72個(gè)小時(shí)內(nèi)派人上門維修和排除故障。

       

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      Thick 8000鐵鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀是專門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。

       

      性能特點(diǎn)

       

      1.精密的三維移動(dòng)平臺(tái); 

      2.的樣品觀測(cè)系統(tǒng); 

      3.*的圖像識(shí)別; 

      4.輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè); 

      5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)切換; 

      6.雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無縫防撞; 

      7.采用大面積高分辨率探測(cè)器,有效降低檢出限,提高測(cè)試精度。

      安裝要求:

      1   環(huán)境溫度要求:15℃-30℃

      2   環(huán)境相對(duì)濕度:<70%

      3   工作電源:交流220±5V

      4   周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。

       

      參數(shù)規(guī)格

       

      1.分析元素范圍:硫(S)~鈾(U); 

      2.同時(shí)檢測(cè)元素:多24個(gè)元素,多達(dá)5層鍍層;

      3.分析含量:一般為2ppm到99.9%;

      4.鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同);

      5.SDD探測(cè)器:分辨率低至135eV;

      6.*的微孔準(zhǔn)直技術(shù):小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm;

      7.樣品觀察:配備全景和局部兩個(gè)工業(yè)高清攝像頭; 

      8.準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合; 

      9.儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;

      10.樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;

      11.樣品臺(tái)尺寸:393(W)x 258 (D)mm;

      12.X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s;

      13.X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度:小于0.1um;

       

      儀器配置                                            

      1    硬件:主機(jī)壹臺(tái),含下列主要部件: 

      (1)   X光管                 (2) 半導(dǎo)體探測(cè)器

      (3) 放大電路                (4) 高精度樣品移動(dòng)平臺(tái)

      (5) 高清晰攝像頭            (6) 高壓系統(tǒng)

      (7) 上照、開放式樣品腔      (8)雙激光定位

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