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      x熒光厚度測厚儀

      更新時間:2020-04-13

      簡要描述:

      x熒光厚度測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

      x熒光厚度測厚儀
       

      1、電鍍行業綜合解決方案

          電鍍是國民經濟中*的基礎工藝性行業,同時又是重污染行業。電鍍所帶來的廢氣、廢水、廢渣嚴重地影響人們的生活與健康。要提高電鍍企業的實力就必須從企業的硬件著手。而內部管控測試是*的環節,其中產品膜厚檢測、RoHS有害元素檢測、電鍍液分析、電鍍工業廢水、廢渣中的重金屬檢測和水質在線檢測等更是重中之重。為此江蘇天瑞儀器股份有限公司基于強大的研發和應用能力特別為電鍍行業制定了一套有效的測試解決方案。

      鍍層膜厚檢測:有效進行鍍層厚度的產品質量管控
      電鍍液分析:檢測電鍍液成分及濃度,確保鍍層質量
      水質在線監測:有效監測電鍍所產生的工業廢水中的有害物質含量,已達到排放標準
      RoHS有害元素檢測:為電鍍產品符合RoHS標準,嚴把質量關
      重金屬及槽液雜質檢測:有效檢測電鍍成品,以及由電鍍所產生的工業廢水、廢物中的重金屬含量

      2、 天瑞儀器有限公司生產的能量色散X熒光光譜儀系列在電鍍檢測行業中, 針對上述五項需求的應用:

      (1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可精準分析;
      (2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監測可進行快速檢測,檢測環境里的重金屬是否超標。
      同時具有以下特點
      快速:1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度,并達到測量精度要求。
      方便:X熒光光譜儀部分機型采用進口上*的電制冷半導體探測器,能量分辨率更優于135eV,測試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補充液氮,操作使用更加方便,并且運行成本比同類的其他產品更低。
      無損:測試前后,樣品無任何形式的變化。
      直觀:實時譜圖,可直觀顯示元素含量。
      測試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
      可靠性高:由于測試過程無人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以,其測量的可靠性更高。
      滿足不同需求:測試軟件為WINDOWS操作系統軟件,操作方便、功能強大,軟件可監控儀器狀態,設定儀器參數,并就有多種*的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
      性價比高:相比化學分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的,可以讓更多的企業和廠家接受。
      簡易:對人員技術要求較低,操作簡單方便,并且維護簡單方便。

      3、天瑞一直致力于分析儀器事業,相信天瑞會為電鍍行業的客戶提供有競爭力的解決方案和服務。

          
      短交貨時間
      快安裝
      短維修周期
      長保修期
      個性化服務
      維護費用

      鍍層膜厚檢測解決方案

      Thick 8000 鍍層測厚儀

       

      1、x熒光厚度測厚儀儀器概述

          Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

      2、x熒光厚度測厚儀性能優勢

      精密的三維移動平臺
      的樣品觀測系統
      *的圖像識別
      輕松實現深槽樣品的檢測
      四種微孔聚焦準直器,自動切換
      雙重保護措施,實現無縫防撞
      采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
      全自動智能控制方式,一鍵式操作!
      開機自動退出自檢、復位
      開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣
      關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
      直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
      點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結果

      3、技術指標

      分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
      同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
      檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
      分析含量:一般為2ppm到99.9%
      鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
      穩定性:可達0.1%
      SDD探測器:分辨率低至135eV
      采用*的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
      樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
      準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
      Ф0.3mm四種準直器組合
      儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
      樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
      樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
      X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
      X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
      操作環境濕度:≤90%
      操作環境溫度 15℃~30℃

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