光譜礦石分析儀

產品介紹

礦石光譜分析儀是使用X射線照射試樣，對產生的X射線熒光進行解析，用以分析試樣元素和含量的裝置。由于X熒光光譜儀器使用方便、快捷，精度高，成本低等特點，已經在很多行業得到廣泛的應用。尤其在地質礦產行業，其應用更得到客戶的認可。

天瑞儀器生產的3600KSUPER2400EDX4500H臺式系列和便攜式系列X熒光光譜分析儀，就是在地質礦產行業應用非常成功的幾款光譜儀器，它們具有以下特點： 
1、 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素，并達到測量精度要求。
2、臺式系列X熒光光譜分析儀是能量色散的設備，其結構簡單，可靠性高，對環境要求較低，可以使用在生產一線，并對操作人員的要求也很低。維修方便，維護成本很低。
3、 它采用進口上*的UHRD探測器，分辨率可達到128eV以上，并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低。便攜式Pocket系列分辨率可達到180±5eV。
4、 臺式系列X熒光光譜分析儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。可分析的元素范圍從Na到U，便攜式GENIUS系列可分析元素范圍從MY到U。
5、 它們是非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
6、 由于臺式系列X熒光光譜分析儀產品測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。其系列產品的分析精度低于0.05％，檢出限可高達2ppm（不同的樣品其指標有所不同）。
7、 可以一次分析二十四種元素，并且同時報告結果。在實際應用中，對主元素與參考元素可以同時分析，這非常適合一線生產工藝指導的要求，同時對產品失效快速分析提供依據。 
8、 測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態，設定儀器參數，并就有多種*的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
9、 便攜式系列X熒光光譜分析儀(Genius7000）堅固耐用、穩定可靠、使用靈活、校準方便等特點，專業化PDA測試軟件使在測試時高靈敏度、藍牙通訊、高速度、多模式多元素自動定性定量分析，便攜、方便使用，便于客戶在現場分析和原位分析。

Genius7000型便攜式光譜礦石分析儀

產品概述

Genius 7000 XRF系列是專門針對在現場、野外進行X熒光分析應用而設計的儀器，可充分滿足檢驗地質樣品、巖芯、原礦、廢棄物、精礦、尾礦的現場分析，對各類樣品進行快速識別和成份分析鑒別。具有體積小，重量輕，普通人可手持測量的特點；

該系列設備采用X射線熒光分析技術，具有超小、超輕、超美、超安全、超方便、超長待機時間、超防水、超準、超快等特點，使儀器檢出限更好，穩定性更高，適用面更廣。

設備均通過嚴格檢測和驗證，各項指標均符合相關技術要求，技術達*水平；可滿足各類用戶對地質及礦產的需求。

優勢特點

重量輕，堅固耐用，適用于任何現場環境及天氣條件
采用嵌入式軟件系統，數據傳輸與顯示刷新速度更快，系統不會感染病毒，保障數據安全，系統更穩定
彩色液晶顯示屏可以實現上下90度和左右270度旋轉，戶外使用時可防止屏幕反光，方便任何角度進行數據觀察，使數據查看更清晰
可分析元素38種，分析速度快、可靠、為現場快速決策提供依據
內置高清晰攝像頭，可以隨時觀察被測樣品的測試位置，方便用戶現場和追溯
提供額外的車載充電器，使戶外工作更方便
具有*的三重安全防護功能：自動感應，沒有樣品時儀器停止工作，無射線泄漏；采用加厚的鉛皮防輻射壁；同時配備防護安全罩，進一步減少測試過程中散射射線，使操作者更安全。輻射防護射線泄露劑量率指標遠遠低于GB5208.1-2005《微計量X射線安全檢查設備》中的“在距離設備外表面5cm的任意處（包括設備的入口、出口處），X射線泄露劑量率應小于5μSv/h”的要求
內置定位接收系統（GPS），方便檢測定位
用于品位控制、礦業生產和近礦勘探，充分挖掘礦山價值，是礦山開采的理想選擇
性價比高，實用經濟型

EDX4500H型光譜礦石分析儀

光譜礦石分析儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。 
該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。 
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

性能特點

高效超薄窗X光管，指標達到*水平 
新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 
天瑞儀器產品—信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上 
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好 
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍 
自動穩譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元 
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣 
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭 
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然

技術參數

產品型號：EDX 4500H
產品名稱：X熒光光譜儀 
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 
同時分析元素：一次性可測幾十種元素 
測量時間：30秒-200秒 
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV 
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃ 
環境濕度：35%-70%
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

標準配置

高效超薄窗X光管 
SDD硅漂移探測器 
數字多道技術
信噪比增強器 SNE
光路增強系統 
高信噪比電子線路單元 
內置高清晰攝像頭 
自動切換型準直器和濾光片 
自動穩譜裝置 
三重安全保護模式 
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態顯示液晶屏
真空泵

應用領域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）.