X熒光光譜儀采用的三大定律介紹

　　X熒光光譜儀屬于先進的分析檢測儀器，隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發展，傳統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內人工操作應用模式，轉化成光、機、電、算（計算機）一體化、自動化的結構，并向智能化、小型化、在線式及儀器聯用方向發展。

　　X熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品必須經過同樣的制樣處理過程。X 射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發只發生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態等。樣品制備過程由于經過多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。

　　X熒光光譜儀能夠對生活中不同元素形成的各式各樣的導體及非導體材料進行分析。那么X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律呢？

　　1、莫塞萊定律

　　莫塞萊定律是反應各個元素X射線特征光譜規律的一種實驗定律，依靠莫塞萊定律進行分析的方式也是可靠的方法之一。X熒光光譜儀在對材料進行分析時也會使用到這一定律，在分析時光譜儀能夠對內層電子的躍遷產生的、表明X射線特征的光譜和原子序數一一對應起來，從而獲得分析結果。

　　2、布拉格定律

　　該定律是一種可以反映晶體衍射基本關系的理論推導定律，同時，布拉格定律是光譜儀所使用的分光原理，在進行材料檢測分析的時候能夠讓不同元素不同波長的特征X熒光*分開，使譜線處理工作變得非常簡單，降低儀器檢出限。

　　3、比爾-朗伯定律

　　比爾-朗伯定律是反應樣品吸收狀況的定律，涉及到理論X射線熒光相對強度的計算問題。X熒光光譜儀采用這一定律進行檢測分析時，樣品可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要將混合的X射線按波長分開，分別測量不同波長的X射線強度，以進行定性和定量分析。